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[txt] 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计书籍详细信息

ISBN：9787508319049
作者：Alfred L.Crouch
出版社：中国电力出版社
出版时间：2004-1-1
页数：376
价格：48.0
纸张：暂无纸张
装帧：平装(无盘)
开本：暂无开本
语言：暂无语言
适合人群：电子工程及相关专业学生, 硬件设计师, 嵌入式系统开发者, 测试工程师, 计算机科学与技术领域的科研人员, 工业界工程师, 对集成电路设计感兴趣的爱好者
TAG：计算机科学 / 电子工程 / 硬件设计 / 数字电路 / 集成电路设计 / 嵌入式系统 / 测试理论 / 可测试性设计 / 软件硬件结合
豆瓣评分：暂无豆瓣评分
更新时间：2025-05-10 13:42:26

内容简介：

书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材料。通过为书中的第一部分列出流程图、工程图表和内容接要，使得读者能够更快更容易地学习和查找。本书是与设计和测试工作相关的工程师和管理员所备的资料书籍。

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