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半导体材料测试与分析
- 出版社::教育科学出版社
:教育科学出版社
出版社信息:
类型:
成立时间:
出版社特色:
出版社简介:
暂无相关内容,正在全力查找中
半导体材料测试与分析书籍相关信息
ISBN:9787030270368
作者:
杨德仁
出版社:
:教育科学出版社
出版时间:2010-4
页数:381
价格:78.00元
纸张:暂无纸张
装帧:暂无装帧
开本:暂无开本
语言:暂无语言
丛书:
半导体科学与技术丛书
适合人群:适合材料科学家,半导体工程师,电子工程师,物理学家,微电子领域的研究生和本科生,以及对该领域感兴趣的工程师和学者
TAG:
材料科学
/
电子工程
/
微电子学
/
测试技术
/
物理分析
/
半导体工程
豆瓣评分:暂无豆瓣评分
更新时间:2025-05-13 15:09:50
内容简介:
《半导体材料测试与分析》主要介绍半导体材料的各种测试分析技术,涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容:包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石,而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量,因此,半导体材料性能和结构的测试和分析,是半导体材料研究和开发的重要方面。 《半导体材料测试与分析》可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作教学用书或参考书,也可供从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。
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半导体材料测试与分析
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半导体材料测试与分析分类索引数据信息
ISBN:9787030270368
出版日期:2010-4
适合人群:适合材料科学家,半导体工程师,电子工程师,物理学家,微电子领域的研究生和本科生,以及对该领域感兴趣的工程师和学者