沃新书屋 - 半导体探测器X射线能谱仪通则 (平装) - 出版社:中国标准出版社

中国标准出版社

出版社信息:

类型:中央一级专业出版社

成立时间:1963年10月

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半导体探测器X射线能谱仪通则 (平装)书籍相关信息

半导体探测器X射线能谱仪通则 (平装)精美图片
  • ISBN:9782072620065
  • 作者:暂无作者
  • 出版社:中国标准出版社
  • 出版时间:2007年11月
  • 页数:6 页
  • 价格:14.0
  • 纸张:暂无纸张
  • 装帧:平装
  • 开本:暂无开本
  • 语言:暂无语言
  • 适合人群:物理学家, 核工程师, 材料科学家, 分析化学家, 高等教育师生, 研究机构研究人员, 科学技术管理人员
  • TAG:物理检测 / 核技术 / 科学仪器 / 半导体探测器 / X射线能谱分析 / 标准通则
  • 豆瓣评分:暂无豆瓣评分
  • 更新时间:2025-05-16 12:02:23

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