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[kindle] Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty书籍详细信息

ISBN：9789048196432
作者：Krishnaswamy, Smita; Markov, Igor L.; Hayes, John
出版社：暂无出版社
出版时间：2012-10
页数：134
价格：$ 145.77
纸张：暂无纸张
装帧：暂无装帧
开本：暂无开本
语言：暂无语言
适合人群：Electronics engineers, Computer scientists, Electrical engineers, System designers, Researchers in reliability and uncertainty analysis
TAG：Circuit Design / Uncertainty Analysis / Reliability Engineering / System Simulation / Logic circuits
豆瓣评分：暂无豆瓣评分
更新时间：2025-05-16 23:38:22

内容简介：

Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design - one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.

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用户1715791222： ( 2024-05-16 00:40:22 )
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用户1738860935： ( 2025-02-07 00:55:35 )
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