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An Electron Microscope and Field Ion Microscope Study of Defects in Quenched Platinum书籍详细信息

ISBN：9781178497007
作者：Newman, Robert William
出版社：暂无出版社
出版时间：暂无出版时间
页数：182
价格：暂无价格
纸张：暂无纸张
装帧：暂无装帧
开本：暂无开本
语言：暂无语言
适合人群：academic researchers in materials science, metallurgy, solid state physics, physicists, engineers specializing in materials engineering, undergraduate and graduate students in related fields
TAG：Materials Science / Solid State Physics / Electron microscopy / field ion microscopy / quenched materials / platinum defects / physical metallurgy
豆瓣评分：暂无豆瓣评分
更新时间：2025-05-17 03:02:37

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用户1726141053： ( 2024-09-12 19:37:33 )
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用户1727391335： ( 2024-09-27 06:55:35 )
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用户1724600017： ( 2024-08-25 23:33:37 )
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An Electron Microscope and Field Ion Microscope Study of Defects in Quenched Platinum分类索引数据信息

ISBN：9781178497007
出版日期：暂无出版时间
适合人群：academic researchers in materials science, metallurgy, solid state physics, physicists, engineers specializing in materials engineering, undergraduate and graduate students in related fields

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