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Optical Microstructural Characterization of Semiconductors
- 出版社:Materials Research Society
Materials Research Society
出版社信息:
类型:
成立时间:
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出版社简介:
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Optical Microstructural Characterization of Semiconductors书籍相关信息
ISBN:9781558994966
作者:
Kalkhoran, N. M. 编
出版社:
Materials Research Society
出版时间:暂无出版时间
页数:333
价格:$ 101.70
纸张:暂无纸张
装帧:精装
开本:暂无开本
语言:暂无语言
适合人群:Academic researchers, Material scientists, Semiconductor engineers, Physics students, Nanotechnology professionals
TAG:
material science
/
nanotechnology
/
Microscopy
/
Semiconductor Physics
/
Characterization Techniques
豆瓣评分:暂无豆瓣评分
更新时间:2025-05-20 20:05:46
内容简介:
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Optical Microstructural Characterization of Semiconductors
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Optical Microstructural Characterization of Semiconductors分类索引数据信息
ISBN:9781558994966
出版日期:暂无出版时间
适合人群:Academic researchers, Material scientists, Semiconductor engineers, Physics students, Nanotechnology professionals