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Electron Tunneling Spectroscopy of Silicon Metal-Oxide-Semiconductor System with Various High-K Gate Dielectrics. -
作者：Wang, Miaomiao
Wang, Miaomiao
人物简介：
Electron Tunneling Spectroscopy of Silicon Metal-Oxide-Semiconductor System with Various High-K Gate Dielectrics.书籍相关信息
- ISBN：9781243578082
- 作者：Wang, Miaomiao
- 出版社：暂无出版社
- 出版时间：暂无出版时间
- 页数：暂无页数
- 价格：暂无价格
- 纸张：暂无纸张
- 装帧：暂无装帧
- 开本：暂无开本
- 语言：暂无语言
- 适合人群：暂无
- TAG：nanotechnology / Electrical Engineering / Solid State Physics / Spectroscopy / Semiconductor Physics / Silicon / Metal-Oxide-Semiconductor (MOS) / High-K Dielectrics / Electron Tunneling
- 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
- 更新时间：2025-05-20 21:07:04
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