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微电子器件封装与测试技术
- 出版社::清华大学出版社
:清华大学出版社
出版社信息:
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微电子器件封装与测试技术书籍相关信息
ISBN:9787302487562
作者:暂无作者
出版社:
:清华大学出版社
出版时间:暂无出版时间
页数:暂无页数
价格:37.60
纸张:暂无纸张
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语言:暂无语言
适合人群:电子工程师, 半导体行业从业者, 高等院校相关专业的学生, 电子技术爱好者, 研究微电子技术的科研人员
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电子工程
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器件设计
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微电子
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测试技术
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半导体
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芯片设计
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电路工程
豆瓣评分:暂无豆瓣评分
更新时间:2025-05-04 00:06:48
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微电子器件封装与测试技术
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微电子器件封装与测试技术分类索引数据信息
ISBN:9787302487562
出版日期:暂无出版时间
适合人群:电子工程师, 半导体行业从业者, 高等院校相关专业的学生, 电子技术爱好者, 研究微电子技术的科研人员