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材料中残余应力的X射线衍射分析和作用
- 出版社:西安交通大学出版社
西安交通大学出版社
出版社信息:
类型:
理工综合性大学出版社
成立时间:
1983年
出版社特色:
出版社简介:
暂无相关内容,正在全力查找中
材料中残余应力的X射线衍射分析和作用书籍相关信息
ISBN:9787560510989
作者:
(清)董诰等编
/
张定铨
出版社:
西安交通大学出版社
出版时间:1999-04
页数:284
价格:20.00
纸张:暂无纸张
装帧:平装
开本:暂无开本
语言:暂无语言
适合人群:材料工程师, 材料科学家, 应力分析专家, 机械工程师, 材料物理学家, 高等院校相关专业的学生和教师
TAG:
材料科学
/
材料工程
/
X射线衍射
/
材料应力分析
/
应力测量
/
微观结构分析
豆瓣评分:暂无豆瓣评分
更新时间:2025-04-29 13:54:02
内容简介:
内容简介 本书比较全面地阐述了残余应力的基本概念、产生原因、稳定性及测试 方法;系统地介绍了X射线衍射应力分析技术,并对影响测试结果的各种因 素进行了探讨;最后从理论和实验两方面着重论述了残余应力对材料疲劳性 能的影响。 本书可供材料科学与工程、机械制造工程及力学等专业的科研人员、工 程技术人员、教师、研究生及高年级学生参考。
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材料中残余应力的X射线衍射分析和作用
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材料中残余应力的X射线衍射分析和作用分类索引数据信息
ISBN:9787560510989
出版日期:1999-04
适合人群:材料工程师, 材料科学家, 应力分析专家, 机械工程师, 材料物理学家, 高等院校相关专业的学生和教师