沃新书屋 - 材料中残余应力的X射线衍射分析和作用 - 出版社:西安交通大学出版社

西安交通大学出版社

出版社信息:

类型:理工综合性大学出版社

成立时间:1983年

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内容简介:

内容简介 本书比较全面地阐述了残余应力的基本概念、产生原因、稳定性及测试 方法;系统地介绍了X射线衍射应力分析技术,并对影响测试结果的各种因 素进行了探讨;最后从理论和实验两方面着重论述了残余应力对材料疲劳性 能的影响。 本书可供材料科学与工程、机械制造工程及力学等专业的科研人员、工 程技术人员、教师、研究生及高年级学生参考。