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沃新书屋 - Reliability and Degradation of III-V Optical Devices
本书资料更新时间：2025-05-17 00:25:20

Reliability and Degradation of III-V Optical Devices

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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices书籍详细信息

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Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for elimination of defect-generating mechanisms.

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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices分类索引数据信息

ISBN：9780890066522
出版日期：1996-1
适合人群：Engineers in semiconductor and optoelectronics fields, Material scientists, Researchers in reliability and degradation of electronic devices, Graduate students and professionals in physics and engineering, Quality assurance and manufacturing engineers
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