邱模范

国内外常用集成电路测试数据手册书籍相关信息

• ISBN：9787805730011
• 作者： Howard L. Heck(霍华德 L. 赫克)　著张徐亮　等译 / 邱模范
• 出版社：长春出版社
• 出版时间：暂无出版时间
• 页数：暂无页数
• 价格：9.8
• 纸张：暂无纸张
• 装帧：暂无装帧
• 开本：暂无开本
• 语言：暂无语言
• 适合人群：电子工程师, 集成电路设计师, 测试工程师, 硬件开发人员, 微电子领域研究人员, 高等院校相关专业的学生, 对电子技术感兴趣的业余爱好者
• TAG：工程手册 / 电子工程 / 电子设计 / 集成电路 / 微电子学 / 测试技术 / 硬件测试 / 电子元器件 / 数据手册
• 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
• 更新时间：2025-05-17 09:40:28