类型：城市出版社
成立时间：1988年11月
出版社特色：外文名:Changchun Publishing House
长春出版社
出版社信息：
出版社简介：
暂无相关内容，正在全力查找中
国内外常用集成电路测试数据手册书籍相关信息
- ISBN：9787805730011
- 作者： Howard L. Heck(霍华德 L. 赫克) 著张徐亮 等译 / 邱模范
- 出版社：长春出版社
- 出版时间：暂无出版时间
- 页数：暂无页数
- 价格：9.8
- 纸张：暂无纸张
- 装帧：暂无装帧
- 开本：暂无开本
- 语言：暂无语言
- 适合人群：电子工程师, 集成电路设计师, 测试工程师, 硬件开发人员, 微电子领域研究人员, 高等院校相关专业的学生, 对电子技术感兴趣的业余爱好者
- TAG：工程手册 / 电子工程 / 电子设计 / 集成电路 / 微电子学 / 测试技术 / 硬件测试 / 电子元器件 / 数据手册
- 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
- 更新时间：2025-05-17 09:40:28
内容简介：
暂无相关简介，正在全力查找中！
全格式电子版 - 免费下载