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[pdf] 国内外常用集成电路测试数据手册

国内外常用集成电路测试数据手册书籍详细信息

ISBN：9787805730011
作者： Howard L. Heck(霍华德 L. 赫克)　著张徐亮　等译 / 邱模范
出版社：长春出版社
出版时间：暂无出版时间
页数：暂无页数
价格：9.8
纸张：暂无纸张
装帧：暂无装帧
开本：暂无开本
语言：暂无语言
适合人群：电子工程师, 集成电路设计师, 测试工程师, 硬件开发人员, 微电子领域研究人员, 高等院校相关专业的学生, 对电子技术感兴趣的业余爱好者
TAG：工程手册 / 电子工程 / 电子设计 / 集成电路 / 微电子学 / 测试技术 / 硬件测试 / 电子元器件 / 数据手册
豆瓣评分：暂无豆瓣评分
更新时间：2025-05-17 09:40:28

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下载评论

用户1728514773： ( 2024-10-10 06:59:33 )
流畅下载AZW3/TXT文件，高清小说推荐收藏，操作便捷。
用户1735360425： ( 2024-12-28 12:33:45 )
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用户1727445691： ( 2024-09-27 22:01:31 )
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用户1726068534： ( 2024-09-11 23:28:54 )
图文功能搭配PDF/AZW3格式，完整数字阅读体验，体验良好。
用户1730907061： ( 2024-11-06 23:31:01 )
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国内外常用集成电路测试数据手册分类索引数据信息

ISBN：9787805730011
出版日期：暂无出版时间
适合人群：电子工程师, 集成电路设计师, 测试工程师, 硬件开发人员, 微电子领域研究人员, 高等院校相关专业的学生, 对电子技术感兴趣的业余爱好者

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